Don Eigler (b 1953)

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掃瞄隧道顯微鏡（scanning tunneling microscope，縮寫為STM），亦稱為掃瞄穿隧式 顯微鏡，是一種利用量子力學中隧道效應的非光學顯微鏡，用以探測物質表面結構的儀器。